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英文字典中文字典相关资料:


  • 图形学基础 - 阴影 - ShadowMap及其延伸 - 知乎
    本文着眼于最流行的阴影贴图 (Shadow Mapping) 技术，对其难点进行分析，给出相应的解决方法，此技术有三大难点： 1） Omnidirectional Shadow Maps： 全方向的阴影贴图 2） Depth Bias： 比较深度时的偏差问题 3） Aliasing： 阴影贴图的采样和重采样问题 对前两个难点，会给一些简单的描述。 本文将聚焦于解决第三个难点的各种方法，主要有： 采样（贴图生成时）：Fitting、 Warp (PSM, LiSPSM, TSM)、Partition (CSM) 重采样（贴图使用时）： PCF 、CSM、ESM、VSM、LVSM、EVSM 介绍阴影贴图之前，先回顾一下 z-buffer 算法，将距离相机最近的片元的深度保存起来：
  • 实时阴影技术（1）Shadow Mapping - KillerAery - 博客园
    所谓硬件 PCF 技术就是利用纹理采样器中的 compare func（如 DX11 中为 D3D11_COMPARISON_LESS_EQUAL）来实现深度大小比较计算，这样对 shadow map 采样一次的结果返还的不是阴影深度而是深度比较后的布尔结果（0或1），并且同时还需要启用 linear sampling 从而可以得到
  • 实时阴影技术（Shadow Mapping）_pcss 算法-CSDN博客
    本文介绍了ShadowMapping的基本原理，包括如何通过LightCamera生成阴影贴图，以及ShadowBias、PeterPanning问题及其解决方案。 此外，文章详细讲解了PercentageCloserFiltering（PCF）和PercentageCloserSoftShadows（PCSS）如何改进阴影质量，减少锯齿和硬阴影。
  • 图形学渲染基础（6）实时阴影（Real-Time Shadows）
    解决方法： 直接给采样阴影深度加一个 偏移量 Bias （相当于把阴影深度往远处加，从而更不容易产生遮挡）。 Peter Panning 这个现象只有在加入了 shadow Bias的时候才会出现，如上图往往在物体缝隙间发生漏光现象。
  • Shadow Mapping 算法总结 | Mercurys Blog
    在 shadow map 上采样 \ (\boldsymbol p\) 对应像素点的附近一定区域的像素，若该像素的深度小于 \ (z_ {\boldsymbol p}\)，即为遮挡物，累加其深度，最后取平均，即可得到 \ (z_b\)。 实现上，这个搜索遮挡物区域的范围可以是恒定的，也可以使用启发法（heuristics），根据光源的尺寸和着色点与光源之间的距离确定搜索遮挡物区域的范围。 但无论如何，都需要一定的计算量，该计算量可能与 PCF 卷积过程相当。 VSM 和 VSSM 是同一项技术。
  • 做游戏的景夫
    它的思路很简单：当采样Shadow Map时，采样周围的象素，对每个象素进行深度值比较，通过深度值比较的象素的百分比可以认为是光照的百分比。 简言之，就是过滤比较结果。 本文附带代码中的class RenderHardwareShadow演示了硬件Shadow Mapping的实现。
  • ShadowMap的技术原理和实现 - 技术专栏 - Unity官方开发者社区
    假设有一个模拟太阳位置的摄像机，在可观察的视线范围内，物体表面各个点到摄像机的距离可以组合成一张深度图，它记录了从该光源的位置出发、能看到的场景中距离它最近的表面位置。 这张深度图就叫做ShadowMap。 （图中紫色部分表示阴影区域） 深度图是通过模拟太阳位置的摄像机获取到的，并非真正渲染场景的视角，真正渲染场景的视角，是B点所在位置的相机。 假设B观察到的三个点p1、p2、p3，在渲染的过程中，首先会把这三个点的顶点位置变换到光源空间下，这样就能得到它们在光源空间中的三维位置信息：sun (p1)、sun (p2)、sun (p3)，
  • 阴影映射 - LearnOpenGL-CN
    核心思想是从深度贴图中多次采样，每一次采样的纹理坐标都稍有不同。 每个独立的样本可能在也可能不再阴影中。 所有的次生结果接着结合在一起，进行平均化，我们就得到了柔和阴影。
  • Shadow Mapping阴影映射
    要解决透视走样问题，最有效的解决方案是Cascaded Shadow Mapping（级联阴影映射），原理是把视锥体分割成多个子视锥体，为每个视锥体计算独立的相等大小的阴影映射。 例如上图中将视锥体分成两部分，两部分子视锥体的分辨率相同，但覆盖范围不一样，距离摄像机越近的子视锥体覆盖范围越小，像素精度越高。 而在第二步从摄像机视角对Shadow Map进行采样对比时，由于深度图是有分辨率的图片，采样分辨率不够时得到的阴影也会产生锯齿。 这是因为计算阴影时要么在阴影中，要么不在阴影中，只能出现非黑即白的效果，因此边缘必定出现锯齿，只是锯齿程度大小的区别。
  • 欠采样 - 维基百科，自由的百科全书
    Under Sampling，也被称为欠取样、下取样或低取样。 欠取样指的是以低于 奈奎斯特速率 的频率对讯号进行取样，由于离散傅立叶转换具周期性的性质，这样做通常会使得高频与低频的频谱混叠，导致讯号失真，而无法还原成原本的讯号。





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